Elektronmikroskopi/ESEM (Environmental Scanning Electron Microscopy) er en meget nøjagtig analytisk metode, der kan anvendes til ikke-destruktiv inspektion af overflader i meget høj forstørrelse. Den stigende kompleksitet og større krav til pålidelighed stiller store krav til inspektionsudstyret. Modsat almindelig mikroskopi (se Mikroskopiinspektion) kan der med ESEM inspiceres topografisk selv ved meget høj forstørrelse (>X20.000).
Udstyret kan også anvendes til identifikation og kalkulation af materialeelementer (se Røntgenspektroskopi (EDX))
ESEM kan, for eksempel, anvendes til undersøgelse og analyse af:
4 ?
