X-ray Fluorescence (XRF) er en meget nøjagtig analytisk metode, der kan anvendes til ikke-destruktiv måling af fx tykkelsen af overfladefinish på kontakter og loddepunkter på PCB eller komponentterminaler.
Udstyret kan også anvendes til identifikation og kalkulation af materialeelementer (materialesammensætning).
XRF kan fx anvendes til undersøgelse og analyse af:
3 ?
